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奧地利Anton Paar公司SurPASS 3固體表面Zeta電位分析儀采用流動電勢法和流動電流發測量Zeta電位，突破了傳統的電泳光散射原理對樣品的限制；采用“增強的 SurPASS 原理”，可直接研究平面固體、粉末、纖維、箔、多孔材料以及具有不同表面粗糙度的材料，而無需使用典型表面；pH 值、電導率和溫度的同步測量；可反映各個表面特性; 軟件可自動接管大部分功能，從而實現快速方便的測量。

安東帕作為高性能分析儀器的開發商和制造商，它將其物理和工程專業技術與當代的軟件創意相結合，研發出直觀又輕松易用的Litesizer 500納米粒度及Zeta電位分析儀。 該分析儀通過光散射技術和巧妙簡易的軟件測量顆粒尺寸，Zeta電位、分子量和透光率。讓您對顆粒體系有一個快速而準確的認識，展示這些顆粒體系如何隨著時間、pH值、溫度和濃度變化，從而為您提供優化工具。

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